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产品名称:

ParticleX TC清洁度分析系统

产品型号: 产品时间: 2020-03-20
ParticleX TC清洁度分析系统
颗粒清洁度SEM-EDS分析
可读入颗粒度分析设备中的颗粒坐标,定点分析颗粒成分
无需镀金即可分析非金属成分
建立材质数据库,自动比对得到颗粒来源
夹具配置可固定每个颗粒位置,图像清晰

产品概述

ParticleX TC清洁度分析系统
清洁度颗粒SEM-EDS分析

在汽车、航空器、医疗设备领域都需要使用洁净度很高的零件。而清洁度分析,是通过测量和分析滤膜上经过清洗后的零部件留下的污染物颗粒来实现的。
清洁度分析是在诸如VDA Vol. 19 和 ISO 16232等工业标准框架下执行的。
自动颗粒计数和显微镜分析法始于2000年,现已成为清洁度滤膜分析的主流方法。

设备特点:

可读入颗粒度分析设备中的颗粒坐标,定点分析颗粒成分
无需镀金即可分析非金属成分
建立材质数据库,自动比对得到颗粒来源
夹具配置可固定每个颗粒位置,图像清晰

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