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清洁度检测方法

发布日期: 2021-09-08
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无论是国家标准、行业标准,还是国外标准(VDA19、ISO16232),都有着各自的清洁度检测方法。因此,尽可能要求顾客提供明确的标准,根据顾客要求,有针对性的选择相应的测量方法
 
以下是各标准所规定方法的通则,用于企业自主制定清洁度检测文件的思路
 
一、收集方法
 
1、 晃动法
---------简单封闭表面所含颗粒,通过向被测零件或元件中注入适当种类和适量体积的试验液,并将开口密封好,晃动零件或元件使颗粒从受控表面上脱离并悬浮在试验液中。晃动后应立即排出所有在测试中使用的试验液,并将其收集以便分析。
--------需要控制的主要过程变量有:试验液及其相关性能,试验液的体积和温度,晃动的类型和周期,包括终点样本在内的样本收集次数,收集到的用于分析的试验液体积。
-------应考虑零件或元件的尺寸和质量,需用的吊具或卡具,以及为便于颗粒收集而需要的任何辅助设备
 
2、压力冲洗法
-------通过向安放在适当的液体收集设备上的零件或元件的受控表面定向喷射试验液,使裸 露表面上或可接触表面上的颗粒剥离。冲洗后所有在测试中使用的试验液应立即收集起来以便分析。
-------需要控制的主要过程变量有:试验液及其相关性能,试验液的压力和流量,试验液的体积和温度,零件或元件的冲洗顺序,包括终点样本在内的样本收集次数,收集到的用于分析的试验液体积。
-------应考虑受控表面的总体可冲洗性,零件或元件的尺寸和质量,需用的吊具和卡具,以及为便于颗粒收集而需要的任何辅助设备。
 
3、超声 波振动法
------通过将零件或元件浸没在试验液中并施加超声 波振动,使超声 波振动可达到的表面上的颗粒剥离。零件或元件一旦从超声 波清洗槽中取出,所有在测试中使用的试验液应立即收集起来以便分析
------需要控制的主要过程变量有:试验液及其相关性能,试验液的体积和温度,设定的设备功率,在超声 波中的暴露时间,包括终点样本在内的样本收集次数,收集到的用于分析的试验液体积,从零件或元件表面剥离可分离颗粒的效果和从超声 波清洗槽中收集用于分析的样本效果。
--------应考虑零件或元件的尺寸和质量,它们和超声 波清洗槽的容量有关。同时还应考虑零件或元件的形状,这些因素都会影响超声 波清洗槽的清洗效果。
 
4、最终使用模拟法
------不易接触的内表面上的颗粒,通过将零件或元件安装在模拟其最终使用的试验台上进行收集试验液通过试验台进行循环的同时,使零件或元件动作。模拟循环一旦结束,应立即收集用于分析的具有代表性的试验液样本。
-------产品试验台可用来进行最终使用模拟试验当产品试验台被用于最终净化过程(例如:在管路中安装净化过滤器)时,供货商和买方可以协商,由零件或元件下游某一合适取样点收集到的样本来分析确定零件或元件的清洁度
--------需要控制的主要过程变量有:试验液及其相关性能,试验液的体积和温度,模拟循环过程,循环周期,收集样本的大小和数量,以及控制先前试验遗 留物影响的程序
-------应慎重选择模拟循环(例如:伴随着零件或元件的跑合会产生颗粒的循环)及确定液压系统中来自其他零件或元件的潜在交叉污染源,尤其当元件安装到试验台上时。尽量减少颗粒的生成量是非常重要的,因为生成的颗粒将引起后续颗粒分析结果的变化。
 
 
二、分析方法
 
1、称重法
获取包含从受控表面收集到的所有颗粒的样本。通常在控制条件下,通过滤膜过滤将颗粒从试验液中分离出来,称取过滤后沉积在滤膜表面上物质的质量来确定颗粒浓度(单位面积质量、单位体积质量、单位零件质量或单位元件质量)。
 
2、颗粒尺寸法
获取包含从受控表面收集到的所有颗粒的样本。通常在控制条件下,通过滤膜过滤将颗粒从试验液中分离出来,使用光学显微镜或光学图像分析仪、扫描电子显微镜或其他图像分析仪器来检查滤膜上残留的颗粒以确定颗粒尺寸。
 
3、化学成分法
获取包含从受控表面收集到的所有颗粒的样本通常在控制条件下,通过滤膜过滤将颗粒从试验液中分离出来,使用适当的仪器,如装有X射线荧光能谱仪的扫描电子显微镜,来检查膜上残留的颗粒以确定化学成分。
 
4、颗粒尺寸分布法
获取具有代表性的颗粒样本。通过适当的计数方法确定颗粒的尺寸和数量,如采用遮光传感器的光学自动颗粒计数器、光学显微镜或光学图像分析仪.

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