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关于光学分析法的金属颗粒分析

发布日期: 2022-10-18
浏览人气: 159

设备介绍

1、AOLL100A自动清洁度分析系统 — —智能扫描型

术参数

AOLL 100A 自动清洁度分析系统描述

l  一键式操作

一键式检测操作,使复杂的检测流程简单化,检测人员易上手,智能化检测。上手简单,易学习,对于未接触过清洁度检测的操作人员也能很快掌握。

 

自动拍照/无缝拼接/先进图像矫正技术/*图像预览

采用核心无缝拼图技术,保证边缘图像无阴影暗角,功能,超越进口设备拼接效果。

图像无缩放,1:1放大显示(业内),肉眼可见拼接效果,细微处见真章。

  l  人工复核

污染物颗粒在滤膜表面分散呈现不同状态,往往会有交集及叠加颗粒出现,软件无法识别,出报告前需对关注目标颗粒进一步复核,本系统支持颗粒修改及属性修改,让数据更准确。

l  自定义标准

内置ISO16232/VDA19/颗粒校准片标准,用户可以根据需要加入不同的分析标准,或选择已有标准进行分析。软件支持现行多种标准进行分析。金属、非金属、纤维区分,按照ISO16232/VDA19等国际标准统计分析,同时支持用户自定标准。

对目标颗粒ID回溯功能

进一步测量,判断颗粒属性,使数据更可靠

l  高度测量模块

回看定位到到需要高度检测颗粒,选取两个基准面,轻松测量颗粒高度

 l   颗粒算法

系统分析标准中包含多种颗粒尺寸定义,结合图像算法,满足不同客户不同标准对颗粒的不同分析要求。

 l  颗粒属性自动检测

软件扫描完成后,出具颗粒列表,自动识别金属颗粒,非金属颗粒,纤维。

金属颗粒:在偏振光照明模式下,颜色会消失,呈现黑色状态;在明场照明模式下,呈现亮色金属光泽;

非金属颗粒:在偏振光以及明场照明模式下,颜色不变;

纤维:非金属、拉伸长度/最大内切圆直径>20 、通过最大内切圆测量的宽度≤50 微米

 l  工件信息设置

支持零件编号,萃取信息/滤膜参数/产品数量/污染物重量/清洗时间等参数信息新建和调用。

    颗粒校准块

在标准47mm圆内划分4个象限,总计80颗,每个象限颗粒数量都是相等的。用软件扫描校准块看系统是否能够识别标准块里面的颗粒数量以及尺寸。提供第三方检测报告,数据真实有效,结果可以追溯。

                                                                                              数据库管理

常规分析系统只有颗粒数据及MAP图储存,无法数据统计。

本系统增加了SQL数据库统计功能,可选择任意时间段查看并调出最大金属颗粒、任意颗粒尺寸范围数据,并以趋势图表述。可为生产过程控制提供直观数据。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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